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ST-SP 2005
晶体管测试仪
产品特点
Ø测试范围广（类，27分类）
Ø升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
Ø采用脉冲测试法，脉冲宽度为标规定的300us
Ø被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏
Ø真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导 ，其结果与器件实际值偏差很大）
Ø系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排障
Ø二极管极性自动判别功能，*人工操作
ØIV 曲线显示 / 局部放大
程序保护电流/电压,以防损坏
Ø品种繁多的曲线
Ø可编程的数据点对应
Ø 增加线性或对数
Ø可编程延迟时间可减少器件发热
Ø保存和重新导入程序
Ø保存和导入之前捕获图象
Ø曲线数据直接导入到 
Ø曲线程序和数据自动存入

ST-SP 2005晶体管测试仪
产品扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机立完成多种工作。

晶体管测试仪产品应用
应用领域
院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……
主要用途
测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）
失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）
选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较*的器件进行分类配对）
来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类机械设备，实现规模化、自动化测试）

美国泰克TEKTRONIX370A,晶体管图示仪TEK370B
TEK370A晶体管测试仪的详细介绍：
带宽：500MHz 
通道数：4ch 
同步采样率/通道：1  GSa/s 
单通道采样率：2GSa/s 
记录长度：50000ptc 
小垂直灵敏度：1  mV/div 
垂直灵敏度：10  V/div 
上升时间：700  ps 
位数：8  bits 
输入阻抗：1  Mohm 
输入耦合：AC,DC,GND 
输入电压：400  Vrms 
***主时基：500  ps/div 
主时基：10  s/div 
时基精度：0.0025  % 
触发源：外置，内置 
触发模式：Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single 
显示类型：Color  LCD 
显示尺寸：17.78  cm 
程控特性/接口特性 
接口：Centronics,GPIB,RS232 
程控语言：Windows
公司主要产品：网络分析仪，频谱分析仪，信号发生器(信号源)，示波器、综合测试仪，WIFI测试仪，音视频分析仪，数据采集器，万用表，蓝牙测试仪，EMI接收机，光谱分析仪，天馈线分析仪，阻抗转换器，视频分析仪，信号分析仪，屏蔽箱，数字电桥，电源，频率计，功率计，GPIB卡等射频仪器。
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