TEK371A晶体测试仪库存回收

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美国泰克TEKTRONIX370A,晶体管图示仪TEK370B
TEK370A晶体管测试仪的详细介绍：
带宽：500MHz
通道数：4ch
同步采样率/通道：1 GSa/s
单通道采样率：2GSa/s
记录长度：50000ptc
小垂直灵敏度：1 mV/div
垂直灵敏度：10 V/div
上升时间：700 ps
位数：8 bits
输入阻抗：1 Mohm
输入耦合：AC,DC,GND
输入电压：400 Vrms
***主时基：500 ps/div
主时基：10 s/div
时基精度：0.0025 %
触发源：外置，内置
触发模式：Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single
显示类型：Color LCD
显示尺寸：17.78 cm
程控特性/接口特性
接口：Centronics,GPIB,RS232
程控语言：Windows

晶体管参数测试仪的使用注意事项
在测量出二极管的反向击穿bai电du压时，被测二极管实际上已经被击穿了，zhi但晶体管测试dao仪测量二极管的反向击穿电压或三极管的集电结反向击穿电压档都在内部串;连了阻值很大的限流电阻，使击穿后的反向电流很小，因此不会烧坏二极管。

ST-SP 2005
晶体管测试仪
产品特点
Ø测试范围广（19大类，27分类）
Ø升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
Ø采用脉冲测试法，脉冲宽度为美**规定的300us
Ø被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏
Ø真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导 ，其结果与器件实际值偏差很大）
Ø系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排障
Ø二极管极性自动判别功能，*人工操作
ØIV 曲线显示 / 局部放大
程序保护电流/电压,以防损坏
Ø品种繁多的曲线
Ø可编程的数据点对应
Ø 增加线性或对数
Ø可编程延迟时间可减少器件发热
Ø保存和重新导入入口程序
Ø保存和导入之前捕获图象
Ø曲线数据直接导入到
Ø曲线程序和数据自动存入

晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射较、共基较电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。
公司主要产品：网络分析仪，频谱分析仪，信号发生器(信号源)，示波器、综合测试仪，WIFI测试仪，音视频分析仪，数据采集器，万用表，蓝牙测试仪，EMI接收机，光谱分析仪，天馈线分析仪，阻抗转换器，视频分析仪，信号分析仪，屏蔽箱，数字电桥，电源，频率计，功率计，GPIB卡等射频仪器。
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