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晶体管测试仪产品应用
应用领域
**院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……
主要用途
测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）
失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）
选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较*的器件进行分类配对）
来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类机械设备，实现规模化、自动化测试）

问：什么是有载测试？
答：故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载，使其并非工作在空载状态，更接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试，集成电路测试仪一般采用有载测试，大型测试仪更是采用多负载可变阻抗测试精度更高。

美国泰克TEKTRONIX370A,晶体管图示仪TEK370B
TEK370A晶体管测试仪的详细介绍：
带宽：500MHz
通道数：4ch
同步采样率/通道：1 GSa/s
单通道采样率：2GSa/s
记录长度：50000ptc
小垂直灵敏度：1 mV/div
垂直灵敏度：10 V/div
上升时间：700 ps
位数：8 bits
输入阻抗：1 Mohm
输入耦合：AC,DC,GND
输入电压：400 Vrms
***主时基：500 ps/div
主时基：10 s/div
时基精度：0.0025 %
触发源：外置，内置
触发模式：Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single
显示类型：Color LCD
显示尺寸：17.78 cm
程控特性/接口特性
接口：Centronics,GPIB,RS232
程控语言：Windows

晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射较、共基较电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。
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