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XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍
1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。
2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A。
3. 峰值电压%:峰值电压可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之连续可调,面板上的标称值是近似值,参考用。
4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制**过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。
5. 峰值电压范围:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时,须先将峰值电压调到零值,换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。
AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描,以便能同时显示器件正反向的特性曲线。
6. 电容平衡:由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容,都将形成电容性电流,因而在电流取样电阻上产生电压降,造成测量误差。为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至小。
7. 电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。
8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。
9. 电源指示:接通电源时灯亮。
10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹清晰。
11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。
12. 聚焦:与聚焦旋钮配合使用。
13. Y轴选择(电流/度)开关:具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基较电压、基较电流和外接的不同转换。
14. 电流/度&TImes;0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流/度&TImes;0.1倍工作状态。
15. 垂直移位及电流/度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡IC标值&TImes;0.1,同时指示灯14亮。
16. Y轴增益:校正Y轴增益。
17. X轴增益:校正X轴增益。
18.显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是:
⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。
⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。
⑶校准:按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。
19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。
20. X轴选择(电压/度)开关:可以进行集电极电压、基较电流、基较电压和外接四种功能的转换,共17挡。
21. “级/簇”调节:在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。
22. 调零旋钮 :测试前,应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基较阶梯信号后,按下测试台上选择按键“零电压”,观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节零旋钮,使阶梯信号的起始级光点仍在该处,这样阶梯信号的零电位即被准确校正。
23. 阶梯信号选择开关:可以调节每级电流大小注入被测管的基较,作为测试各种特性曲线的基较信号源,共22挡。一般选用基较电流/级,当测试场效应管时选用基较源电压/级。
24. 串联电阻开关:当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时,串联电阻将串联在被测管的输入电路中。
25. 重复--关按键:弹出为重复,阶梯信号重复出现;按下为关,阶梯信号处于待触发状态。
26. 阶梯信号待触发指示灯:重复按键按下时灯亮,阶梯信号进入待触发状态。
27. 单簇按键开关:单簇的按动其作用是使预先调整好的电压(电流)/级,出现一次阶梯信号后回到等待触发位置,因此可利用它瞬间作用的特性来观察被测管的各种极限特性。
28. 极性按键:极性的选择取决于被测管的特性。
29. 测试台
美国泰克TEKTRONIX370A,晶体管图示仪TEK370B
TEK370A晶体管测试仪的详细介绍:
带宽:500MHz
通道数:4ch
同步采样率/通道:1 GSa/s
单通道采样率:2GSa/s
记录长度:50000ptc
小垂直灵敏度:1 mV/div
垂直灵敏度:10 V/div
上升时间:700 ps
位数:8 bits
输入阻抗:1 Mohm
输入耦合:AC,DC,GND
输入电压:400 Vrms
***主时基:500 ps/div
主时基:10 s/div
时基精度:0.0025 %
触发源:外置,内置
触发模式:Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single
显示类型:Color LCD
显示尺寸:17.78 cm
程控特性/接口特性
接口:Centronics,GPIB,RS232
程控语言:Windows
ST-SP 2005
晶体管测试仪
产品特点
Ø测试范围广(19大类,27分类)
Ø升级扩展性强,通过选件可提高电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
Ø采用脉冲测试法,脉冲宽度为美**规定的300us
Ø被测器件引腿接触自动判断功能,遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏
Ø真正的动态跨导测试。(主流的直流方法测动态跨导 ,其结果与器件实际值偏差很大)
Ø系统故障在线判断修复能力,便于应急处理排障
Ø二极管极性自动判别功能,*人工操作
ØIV 曲线显示 / 局部放大
程序保护电流/电压,以防损坏
Ø品种繁多的曲线
Ø可编程的数据点对应
Ø 增加线性或对数
Ø可编程延迟时间可减少器件发热
Ø保存和重新导入入口程序
Ø保存和导入之前捕获图象
Ø曲线数据直接导入到
Ø曲线程序和数据自动存入
晶体管参数测试仪的使用注意事项
在测量出二极管的反向击穿bai电du压时,被测二极管实际上已经被击穿了,zhi但晶体管测试dao仪测量二极管的反向击穿电压或三极管的集电结反向击穿电压档都在内部串;连了阻值很大的限流电阻,使击穿后的反向电流很小,因此不会烧坏二极管。
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