泰克371晶体测试仪低价销售

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晶体管参数测试仪的使用注意事项
在测量出二极管的反向击穿bai电du压时，被测二极管实际上已经被击穿了，zhi但晶体管测试dao仪测量二极管的反向击穿电压或三极管的集电结反向击穿电压档都在内部串;连了阻值很大的限流电阻，使击穿后的反向电流很小，因此不会烧坏二极管。

编程器和测试仪的区别：
编程器的主要功能是编程而不是器件测试，器件测试只是其附加功能，它的逻辑状态读取都是io，不能区别对待74HC系列和74LS系列，且无法区分CD4000系列和HEF4000系列的区别 稍有电子常识的人都知道74hc系列和74ls系列采用了不同的逻辑电平标准，CD4000系列也不完全等同于HEF4000系列，例如CD4068、CD4078就和HEF4068、HEF4078就有逻辑功能差异不可代换，这类器件占一定比例。
数字芯片主要有TTL电平标准和COMS电平标准，维修精灵完全按其电平标准判断，以保测试可靠性。编程器一般只能测试其逻辑功能是否正确，而不能对阀值进行测试。例如：用编程器搜索74HC00,编程器将只显示7400,而不能显示是哪种电平标准的。当被测试芯片出现老化、驱动能力下降、等软故障时编程器是根本测试不出来的。维修精灵则是依据阀值进行判断，同样如在搜索74HC00时将显示74HC00,搜索74LS00时显示74LS00,或在HC模式下测试LS芯片将被认为芯片损坏！等等反之亦然。

晶体管测试仪产品应用
应用领域
**院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……
主要用途
测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）
失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）
选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较*的器件进行分类配对）
来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类机械设备，实现规模化、自动化测试）

问：什么是有载测试？
答：故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载，使其并非工作在空载状态，更接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试，集成电路测试仪一般采用有载测试，大型测试仪更是采用多负载可变阻抗测试精度更高。
公司主要产品：网络分析仪，频谱分析仪，信号发生器(信号源)，示波器、综合测试仪，WIFI测试仪，音视频分析仪，数据采集器，万用表，蓝牙测试仪，EMI接收机，光谱分析仪，天馈线分析仪，阻抗转换器，视频分析仪，信号分析仪，屏蔽箱，数字电桥，电源，频率计，功率计，GPIB卡等射频仪器。
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