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晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射较、共基较电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。

晶体管参数测试仪的使用注意事项
在测量出二极管的反向击穿bai电du压时，被测二极管实际上已经被击穿了，zhi但晶体管测试dao仪测量二极管的反向击穿电压或三极管的集电结反向击穿电压档内部串;连了阻值很大的限流电阻，使击穿后的反向电流很小，因此不会烧坏二极管。

美国泰克TEKTRONIX370A,晶体管图示仪TEK370B
TEK370A晶体管测试仪的详细介绍：
带宽：500MHz 
通道数：4ch 
同步采样率/通道：1  GSa/s 
单通道采样率：2GSa/s 
记录长度：50000ptc 
小垂直灵敏度：1  mV/div 
垂直灵敏度：10  V/div 
上升时间：700  ps 
位数：8  bits 
输入阻抗：1  Mohm 
输入耦合：AC,DC,GND 
输入电压：400  Vrms 
***主时基：500  ps/div 
主时基：10  s/div 
时基精度：0.0025  % 
触发源：外置，内置 
触发模式：Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single 
显示类型：Color  LCD 
显示尺寸：17.78  cm 
程控特性/接口特性 
接口：Centronics,GPIB,RS232 
程控语言：Windows

ST-SP 2005晶体管测试仪
产品扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机立完成多种工作。
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