泰克371B晶体测试仪高价回收 金诚电子仪器

高价收购二手仪器、工厂倒闭、个人闲置仪器
问：什么是有载测试？
   答：故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载，使其并非工作在空载状态，更接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试，集成电路测试仪一般采用有载测试，大型测试仪更是采用多负载可变阻抗测试精度更高。

晶体管测试仪作用
　　可测试仪性能稳定，能自动读出准确数据，使用方便，适用于电子爱好者、电子开发者、设计者、与电子维修者必需小仪器。它可测各种二极管，三极管，可控硅，MOS场效应管；能判断器件类型，引脚的极性，输出HFE，阀电压，场效应管的结电容，附加条件可测电容和电阻等。特别适合晶体管配对和混杂表贴元件识别。

晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射较、共基较电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。

泰克/TEKTRONIX 370晶体管测试仪TEK370回收
主要参数：·半导体器件高精度测量
-上限达2000V或电流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的测量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的测量分辨率（370A）
·波形对比
·包络显示
·波形平均
·点光标（370A）
·Kelvin传感测量
·全程控
·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用
应用
手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
来料检查
生产测试
过程监视及质量控制
数据报告的生成
元件配对
失效分析
工程测试
交互式程
所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非
易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
测试夹具
测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001，中间通过Kelvin传
感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。
370A程控特性曲线图示仪
370A是**的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管
、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作
在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。
370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。
技术指标 集电极电源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范围 峰值电流（±） 峰值电流（脉冲式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器 模式 阶梯：DC,80μS脉冲，300μS脉冲 阶梯量程-   电流： 50nA到200mA，按1-2-5顺序 电压： 50mV到2V，按1-2-5顺序 偏置 到±10X阶梯幅度 阶梯数 0到10 测量特性 集电极电流-   测试量程： 100nA/div(1nA分辨率）至2A/div误差，1.5%光标读出+0.05div设定值（点光标） 发射较电流-   测试量程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 误差 1.5%光标读出+0.05div设定值+1nA 安全标准 UL1244，CSA231，HD401S1
注：本公司长期回收/销售二手仪器，维修实力雄厚,自主元件级维修综合测试仪,网络分析仪，高频信号源,频谱仪,示波器,失真仪，功率计，彩色信号发生器，函数信号发生器，直流电子负载，信纳仪，调制度表，安规测试仪，音频分析仪，毫伏表，扫频仪,频率计,电桥,电话机测试仪等等。
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