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晶体管参数测试仪的使用注意事项
在测量出二极管的反向击穿bai电du压时，被测二极管实际上已经被击穿了，zhi但晶体管测试dao仪测量二极管的反向击穿电压或三极管的集电结反向击穿电压档内部串;连了阻值很大的限流电阻，使击穿后的反向电流很小，因此不会烧坏二极管。

晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射较、共基较电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。

370A程控特性曲线图示仪
370A是**的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管
、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作
在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。
370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。
技术指标 集电极电源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范围 峰值电流（±） 峰值电流（脉冲式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器 模式 阶梯：DC,80μS脉冲，300μS脉冲 阶梯量程-   电流： 50nA到200mA，按1-2-5顺序 电压： 50mV到2V，按1-2-5顺序 偏置 到±10X阶梯幅度 阶梯数 0到10 测量特性 集电极电流-   测试量程： 100nA/div(1nA分辨率）至2A/div误差，1.5%光标读出+0.05div设定值（点光标） 发射较电流-   测试量程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 误差 1.5%光标读出+0.05div设定值+1nA 安全标准 UL1244，CSA231，HD401S1 
 经营产品：
示波器、频谱分析仪、网络分析仪、信号源/信号发生器、色彩分析仪、色度亮度计、辉度计、照度计、无线综合测试仪、万用表、
功率计、频率计、LCR测量仪、逻辑分析仪、天馈线测试仪、交直流电源、蓝牙测试仪、数据采集仪、光波测量系统、多用表校准仪、
电子负载、噪声测试仪、电工电能测试仪、各类通讯测试仪器及光学测量仪等电子仪器仪表。
本公司销售/收购/租赁/维修以下二手仪器：
示波器、频谱分析仪、网络分析仪、信号源/信号发生器、色彩分析仪、色度亮度计、辉度计、照度计、无线综合测试仪、万用表、
功率计、频率计、LCR测量仪、逻辑分析仪、天馈线测试仪、交直流电源、蓝牙测试仪、数据采集仪、光波测量系统、多用表校准仪、
电子负载、噪声测试仪、电工电能测试仪、各类通讯测试仪器及光学测量仪等电子仪器仪表，如有需要，欢迎随时来电！

ST-SP 2005晶体管测试仪
产品扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机立完成多种工作。
公司主要产品：网络分析仪，频谱分析仪，信号发生器(信号源)，示波器、综合测试仪，WIFI测试仪，音视频分析仪，数据采集器，万用表，蓝牙测试仪，EMI接收机，光谱分析仪，天馈线分析仪，阻抗转换器，视频分析仪，信号分析仪，屏蔽箱，数字电桥，电源，频率计，功率计，GPIB卡等射频仪器。
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