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问：什么是有载测试？
   答：故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载，使其并非工作在空载状态，更接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试，集成电路测试仪一般采用有载测试，大型测试仪更是采用多负载可变阻抗测试精度更高。

晶体管测试仪作用
　　可测试仪性能稳定，能自动读出准确数据，使用方便，适用于电子爱好者、电子开发者、设计者、与电子维修者必需小仪器。它可测各种二极管，三极管，可控硅，MOS场效应管；能判断器件类型，引脚的极性，输出HFE，阀电压，场效应管的结电容，附加条件可测电容和电阻等。特别适合晶体管配对和混杂表贴元件识别。

美国泰克TEKTRONIX370A,晶体管图示仪TEK370B
TEK370A晶体管测试仪的详细介绍：
带宽：500MHz 
通道数：4ch 
同步采样率/通道：1  GSa/s 
单通道采样率：2GSa/s 
记录长度：50000ptc 
小垂直灵敏度：1  mV/div 
垂直灵敏度：10  V/div 
上升时间：700  ps 
位数：8  bits 
输入阻抗：1  Mohm 
输入耦合：AC,DC,GND 
输入电压：400  Vrms 
***主时基：500  ps/div 
主时基：10  s/div 
时基精度：0.0025  % 
触发源：外置，内置 
触发模式：Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single 
显示类型：Color  LCD 
显示尺寸：17.78  cm 
程控特性/接口特性 
接口：Centronics,GPIB,RS232 
程控语言：Windows

晶体管参数测试仪的使用注意事项
在测量出二极管的反向击穿bai电du压时，被测二极管实际上已经被击穿了，zhi但晶体管测试dao仪测量二极管的反向击穿电压或三极管的集电结反向击穿电压档内部串;连了阻值很大的限流电阻，使击穿后的反向电流很小，因此不会烧坏二极管。
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