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问：什么是有载测试？
答：故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载，使其并非工作在空载状态，更接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试，集成电路测试仪一般采用有载测试，大型测试仪更是采用多负载可变阻抗测试精度更高。

美国泰克TEKTRONIX370A,晶体管图示仪TEK370B
TEK370A晶体管测试仪的详细介绍：
带宽：500MHz
通道数：4ch
同步采样率/通道：1 GSa/s
单通道采样率：2GSa/s
记录长度：50000ptc
小垂直灵敏度：1 mV/div
垂直灵敏度：10 V/div
上升时间：700 ps
位数：8 bits
输入阻抗：1 Mohm
输入耦合：AC,DC,GND
输入电压：400 Vrms
***主时基：500 ps/div
主时基：10 s/div
时基精度：0.0025 %
触发源：外置，内置
触发模式：Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single
显示类型：Color LCD
显示尺寸：17.78 cm
程控特性/接口特性
接口：Centronics,GPIB,RS232
程控语言：Windows

晶体管测试仪产品应用
应用领域
**院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……
主要用途
测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）
失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）
选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较*的器件进行分类配对）
来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类机械设备，实现规模化、自动化测试）

ST-SP 2005
晶体管测试仪
产品特点
Ø测试范围广（19大类，27分类）
Ø升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
Ø采用脉冲测试法，脉冲宽度为美**规定的300us
Ø被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏
Ø真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导 ，其结果与器件实际值偏差很大）
Ø系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排障
Ø二极管极性自动判别功能，*人工操作
ØIV 曲线显示 / 局部放大
程序保护电流/电压,以防损坏
Ø品种繁多的曲线
Ø可编程的数据点对应
Ø 增加线性或对数
Ø可编程延迟时间可减少器件发热
Ø保存和重新导入入口程序
Ø保存和导入之前捕获图象
Ø曲线数据直接导入到
Ø曲线程序和数据自动存入
公司主要产品：网络分析仪，频谱分析仪，信号发生器(信号源)，示波器、综合测试仪，WIFI测试仪，音视频分析仪，数据采集器，万用表，蓝牙测试仪，EMI接收机，光谱分析仪，天馈线分析仪，阻抗转换器，视频分析仪，信号分析仪，屏蔽箱，数字电桥，电源，频率计，功率计，GPIB卡等射频仪器。
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